钨探针是一种采用高纯钨材料制成的精密测试工具，广泛应用于电子、电气及半导体行业的微小元件检测和电性能测试。钨具有极高的熔点、优良的导电性和耐磨损性，使得钨探针能够在高温及严苛环境下保持稳定的性能和精确的测量效果。钨探针头部硬度高，耐腐蚀，能够有效减少接触电阻和信号干扰，确保测试数据的准确性。其形状和尺寸可根据不同测试需求定制，广泛应用于集成电路(IC)测试、晶圆探针卡、微电子组装等领域。
钨探针是一种采用高纯钨材料制成的精密测试工具，广泛应用于电子、电气及半导体行业的微小元件检测和电性能测试。钨具有极高的熔点、优良的导电性和耐磨损性，使得钨探针能够在高温及严苛环境下保持稳定的性能和精确的测量效果。钨探针头部硬度高，耐腐蚀，能够有效减少接触电阻和信号干扰，确保测试数据的准确性。其形状和尺寸可根据不同测试需求定制，广泛应用于集成电路(IC)测试、晶圆探针卡、微电子组装等领域。
